低漏电、高可靠性同质GaN电子器件
来源: | 作者:. | 发布时间 :2024-10-17 | 26 次浏览: | 分享到:

该器件降低功率器件静态功耗和射频器件噪声,满足低能耗功率器件和低噪声射频器件的应用需求。

成果发表:

Wang X, Lind Z Y, Zhang Y M, et al. Different reverse leakage current transport mechanisms of planar Schottky barrier diodes (SBDs) on sapphire and GaN substrate[J]. Results in Physics, 2023, 53: 106933.