首页
中心概况
中心简介
党建工作
公共平台
材料生长创新平台
测试分析与服役评价平台
器件工艺与封装平台
模块设计与集成应用平台
协同创新
联合研发
揭榜挂帅
产业生态
合作交流
多元化投入
行业研究与产业专业报告
成果展示
知识产权
技术攻关
标准建设
人才引育
人才团队
热招岗位
动态资讯
新闻资讯
行业动态
合作对接
首页
中心概况
中心简介
党建工作
公共平台
材料生长创新平台
测试分析与服役评价平台
器件工艺与封装平台
模块设计与集成应用平台
协同创新
联合研发
揭榜挂帅
产业生态
合作交流
多元化投入
行业研究与产业专业报告
成果展示
知识产权
技术攻关
标准建设
人才引育
人才团队
热招岗位
动态资讯
新闻资讯
行业动态
合作对接
首页
￤
测试分析与服役评价平台--典型测试案例
￤
高质量TEM样品制备
高质量TEM样品制备
来源:
|
作者:
佚名
|
发布时间 :
2021-09-22
|
415
次浏览:
|
分享到:
FIB制备TEM样品：0.5keV低电压和0.1pA极低束流抛光保证了样品表面非晶损伤层厚度控制在<1nm像。
上一篇：
4K低温微区荧光光谱......
下一篇：
无
